用PAT研究SrTiO3双功能陶瓷的缺陷结构

摘要

测定了不同气氛烧结的SrTiO3双功能陶瓷的正电子湮灭(PAT)寿命谱,其平均寿命随着烧结气氛中H2含量的增加而减小.这是还原烧结气氛使瓷体中形成较多的氧缺位,氧缺位捕获两个弱束缚电子形成F′-色心所致.弱束缚电子在禁带内形成局域能级,并使材料的电子浓度增大.x衍射分析结果证明了材料晶体结构的变化.