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高速ADC微分相位、微分增益的测试

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摘要

本文采用数字处理技术对高速ADC的微分相位、微分增益的测试方法进行研究,给出了方程式,构建了数字测试系统,完成了高速ADC微分相位及微分增益的测试,该方法适用于大批量的ADC动态参数的测试.

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来源
《电子学报》 |2003年第12期|1897-1899|共3页
作者
李迅波; 陈光(踽); 严顺柄;
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作者单位

电子科技大学,四川成都,610054;

电子科技大学,四川成都,610054;

四川固体物理研究所,重庆,40060;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类数据处理、数据处理系统;
关键词
微分相位; 微分增益; 数字处理技术; 模数转换;

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