Rutgers The State University of New Jersey - New Brunswick.;
机译:用于超薄HFO2 / SiO2 / Si薄膜定量深度分析的中型能离子散射的循环试验
机译:用于定量深度分析的超能量离子散射的循环罗宾试验,用于超薄HFO 2 sub> / siO 2 sub> / si薄膜
机译:中能离子散射光谱法用于超薄膜的定量表面和近表面分析
机译:氧化物界面粗糙度对带有超薄栅极氧化物的decanano MOSFET阈值电压波动的影响
机译:氧化物表面和金属氧化物界面的反应性:水蒸气压力对超薄氧化铝膜的影响,以及铂在超薄氧化膜上的生长模式及其对粘附力的影响的研究。
机译:使用3D中能离子散射原位表征超薄硅化镍
机译:超薄YBA2Cu3O7薄膜生长界面微观结构的TEM研究。