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绪论
第一章 X射线荧光光谱分析的基本原理
前言
1.1 X射线和X射线光谱
1.1.1 X射线的基本性质
1.1.2 X射线荧光连续光谱
1.1.3 X射线特征光谱
1.2 X射线荧光光谱分析的基本原理
1.3 EDXRF仪器简介
1.4 X射线荧光光谱的定量分析
1.4.1谱峰的测量
1.4.2 X射线荧光光谱定量分析中的影响因素
1.4.3背景
1.4.4 X射线荧光光谱定量分析方法
1.4.5经验系数法
1.5 X射线荧光光谱技术在考古中的应用
参考文献
第二章 商周时期原始瓷的EDXRF无损分析
前言
2.1原始瓷简介
2.2原始瓷问题研究的回顾
2.2.1原始瓷的定名
2.2.2原始瓷产地问题
2.2.3原始瓷工艺特点的研究
2.3实验部分
2.3.1实验设备
2.3.2样品的来源
2.3.3校准样品的的测试
2.3.4背景扣除
2.3.5校正方程和检出限
2.3.6被测样品的制备与测试
2.4结果与讨论
2.4.1实验结果
2.4.2数据讨论
2.5结论
参考文献
第三章 汝瓷成分的线扫描分析
前言
3.1汝瓷简介
3.2同步辐射X射线荧光简介
3.3实验部分Ⅰ
3.3.1实验设备
3.3.2偏光电镜观察
3.3.3扫描电镜观察
3.3.4实体显微镜观察
3.4实验部分Ⅱ
3.4.1实验装置及测试条件
3.4.2校准样品的选择、测试与校准
3.4.3实验样品及测试
3.5结果与讨论
3.5.1成分定量分析
3.5.2成分的线扫描分析
3.6结论
参考文献
第四章 结束语
参考文献
论文发表情况
致谢