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汝瓷和原始瓷的XRFA研究

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绪论

第一章 X射线荧光光谱分析的基本原理

前言

1.1 X射线和X射线光谱

1.1.1 X射线的基本性质

1.1.2 X射线荧光连续光谱

1.1.3 X射线特征光谱

1.2 X射线荧光光谱分析的基本原理

1.3 EDXRF仪器简介

1.4 X射线荧光光谱的定量分析

1.4.1谱峰的测量

1.4.2 X射线荧光光谱定量分析中的影响因素

1.4.3背景

1.4.4 X射线荧光光谱定量分析方法

1.4.5经验系数法

1.5 X射线荧光光谱技术在考古中的应用

参考文献

第二章 商周时期原始瓷的EDXRF无损分析

前言

2.1原始瓷简介

2.2原始瓷问题研究的回顾

2.2.1原始瓷的定名

2.2.2原始瓷产地问题

2.2.3原始瓷工艺特点的研究

2.3实验部分

2.3.1实验设备

2.3.2样品的来源

2.3.3校准样品的的测试

2.3.4背景扣除

2.3.5校正方程和检出限

2.3.6被测样品的制备与测试

2.4结果与讨论

2.4.1实验结果

2.4.2数据讨论

2.5结论

参考文献

第三章 汝瓷成分的线扫描分析

前言

3.1汝瓷简介

3.2同步辐射X射线荧光简介

3.3实验部分Ⅰ

3.3.1实验设备

3.3.2偏光电镜观察

3.3.3扫描电镜观察

3.3.4实体显微镜观察

3.4实验部分Ⅱ

3.4.1实验装置及测试条件

3.4.2校准样品的选择、测试与校准

3.4.3实验样品及测试

3.5结果与讨论

3.5.1成分定量分析

3.5.2成分的线扫描分析

3.6结论

参考文献

第四章 结束语

参考文献

论文发表情况

致谢

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摘要

X射线荧光光谱分析(XRF)是一种对各种物质进行多元素成分同时测定的常用手段,已经广泛应用于考古样品的物质成分分析.考古样品种类很多,有陶器、瓷器、青铜器、金银器、颜料等,这些样品类型繁多,所含元素不同,含量范围也很宽.考虑到考古样品的特殊性,对其的检测要求最好是无损的,该文用XRF无损法对古陶瓷样品检测进行了分析和研究.在对商周时期原始瓷的测量中,我们采用了能量色散X射线荧光(EDXRF)经验系数法对瓷片样品进行了检测.经验系数法是最早发展起来和最常用的校正基体效应的方法,它是凭经验(依靠标样)来确定系数,以表示基体元素对分析元素的影响,通过回归方程,将分析元素的含量与其谱线强度以及与样品中其他元素的关系,清楚的表达出来,从而达到校正基体效应的目的.我们使用经验系数法,确定了基体元素,对测量数据进行了基体校正,取得了良好的效果.在体视显微镜下,我们可以明显看到汝瓷的中间层,但在偏光显微镜和扫描电镜下却未观察到此中间层.为了验证此现象,我们使用同步辐射X射线荧光(SRXRF),线扫描分析了汝瓷从釉到胎的成分变化,证实了中间层的存在,并发现,该中间层的物相与胎相似而与釉不同,说明汝瓷是二次烧成,其中间层是由于釉熔融后渗入胎的表面而形成的.

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