嵌入式闪存测试技术研究

目录

摘要

Abstract

第一章 引言

1.1 论文研究的目的和意义

1.2 国内外研究的背景和现状

1.3 课题来源与论文结构

第二章 嵌入式闪存功能结构与测试方法概述

2.1 嵌入式闪存的功能结构

2.2 嵌入式闪存测试简介

2.2.1 嵌入式闪存测试的基本概念

2.2.2 嵌入式闪存测试框架

2.3 嵌入式闪存的测试原理

2.3.1 测试平台与环境要求

2.3.2 测试流程及关键步骤

2.4 嵌入式闪存常见的测试问题

2.5 本章小节

第三章 嵌入式闪存的电路设计与测试

3.1 BIST电路设计及测试方案

3.1.1 并行测试接口方案

3.1.2 半并行测试接口方案

3.1.3 串口测试接口方案

3.1.4 测试方案的研究及选用

3.2 电路关键参数的设计规格与评估

3.3 电路缺陷的检查及弥补方法

3.4 程序测试向量的设计过程

3.5 本章小节

第四章 嵌入式闪存的存储单元工艺与测试

4.1 存储单元的工艺结构

4.2 存储单元的测试方法研究

4.3 工艺关键参数的设计规格与评估

4.4 工艺缺陷的检查及弥补方法

4.4.1 Idp的调节对于写操作的改善作用

4.4.2 Vwl-pgm对于写操作的影响作用

4.5 程序测试向量的设计过程

4.6 本章小节

第五章 嵌入式闪存的量产测试

5.1 测试目标的制定

5.2 量产流程的制定及发布

5.3 缩减测试时间

5.3.1 提升测试频率

5.3.2 测试模式替代用户模式

5.3.3 同测数能力的扩展

5.4 优化测试方法

5.4.1 测试效率及覆盖率的提高

5.4.2 测试稳定性的提高

5.5 成品率的监控与管理

5.6 本章小节

第六章 总结与展望

6.1 总结

6.2 展望

致谢

参考文献