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第一章绪论
1.1集成电路发展概述
1.2电子产品实现过程中测试问题的重要性
1.3数字集成电路的测试
1.4论文安排
第二章数据采集中的误差处理
2.1误差的概念与表示方法
2.1.1测量误差
2.1.2误差的表示方法
2.1.3误差的性质与分类
2.1.4测量结果的评价
2.2测试仪器对信号的影响
2.2.1逻辑分析仪中探头对测量的影响
2.3噪声对测量的影响
2.3.1 PCB布线理论
2.3.2滤波器理论
2.4小结
第三章ADC测试参数计算的理论
3.1参数定义
3.2 ADC的测试技术
3.2.1静态测试法和动态测试法
3.2.2 FFT分析理论
3.3相干采样
3.4原始输入波形(基波)的恢复
3.5 ADC的测试原理框图
3.6小结
第四章ADC数据分析和实验参数处理的实现
4.1测量数据误差处理的实现
4.1.1有效数字的处理
4.1.2测量数据的表示方法
4.2码密度直方图分析理论
4.2.1选择合适的输入信号
4.2.2随机采样
4.2.3正弦波概率密度及概率分布
4.2.4基于码密度直方图分析的ADC动态传递特性参数推导
4.2.5采样数Nt的确定
4.3码密度直方图算法和FFT算法实现
4.3.1MATLAB程序设计
4.4小结
第五章ADC参数定义改进和窗函数的应用
5.1ADC参数优化
5.2窗函数
第六章小结与展望
参考文献
致谢