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缩略词表
1 绪论
1.1 课题背景及意义
1.2 数模转换器的发展与现状
1.3 本论文的主要工作
1.4 论文的组织结构
2 数模转换器技术
2.1 数模转换器的基本原理和类型
2.1.1 数模转换器的基本原理
2.1.2 数模转换器的类型
2.2 数模转换器的静态参数
2.2.1 满量程范围
2.2.2 最小分辨率
2.2.3 失调误差
2.2.2 增益误差
2.2.3 积分非线性
2.2.4 微分非线性
2.2.5 单调性
2.2.6 静态功耗
2.3 数模转换器的动态参数
2.3.1 信噪比
2.3.2 总谐波失真
2.3.3 无杂散动态范围
2.3.4 信噪失真比
2.3.5 互调失真
2.3.6 建立时间
2.4 奈奎斯特率数模转换器
2.4.1 电流源数模转换器
2.4.2 电阻型数模转换器
2.4.3 电容型数模转换器
2.5 过采样数模转换器
2.6 数模转换器的噪声和误差
2.6.1 量化噪声
2.6.2 时钟抖动噪声
2.6.3 kT/C噪声
2.6.4 误差机制
2.7 本章小结
3 音频数模转换器的电路设计
3.1 总体考虑和结构选择
3.2 数字电路部分简介
3.2.1 插值滤波器
3.2.2 Σ-Δ调制器
3.2.3 数据加权平均
3.3 模拟电路部分的结构
3.4 数模接口电路的设计
3.4.1 电平移位电路
3.4.2 数据同步电路
3.5 基准产生电路的设计
3.5.1 带隙基准源
3.5.2 误差放大器
3.5.3 电压缓冲器
3.6 开关电容DAC电路的设计
3.6.1 时钟产生电路
3.6.2 开关
3.6.3 电容
3.6.4 运算放大器
3.6.5 开关电容DAC
3.7 低通滤波器的设计
3.8 整体仿真与分析
3.8.1 模拟电路部分整体仿真
3.8.3 全芯片混合信号仿真
3.9 本章小结
4 版图设计与验证
4.1 流片工艺介绍
4.1.1 工艺中的器件
4.1.2 工艺中的I/O单元
4.1.3 主要工艺流程
4.2 模拟部分电路的版图设计
4.2.1 模拟电路部分版图的绘制
4.2.2 模拟电路部分版图的验证
4.3 芯片整体版图的设计
4.3.1 可测性设计
4.3.2 抗干扰设计
4.3.3 数字版图与PAD布置
4.4 全芯片数模混合LVS
4.4.1 网表的准备
4.4.2 版图的准备及LVS设置
4.5 本章小结
5 芯片的测试
5.1 测试方案
5.2 PCB设计
5.3 测试向量的生成
5.3.1 模拟部分的测试向量
5.3.2 整体芯片的测试向量
5.4 测试结果及分析
5.4.1 带隙基准源的测试
5.4.2 模拟电路部分的测试
5.4.3 芯片整体的测试
5.4.4 其他测试
5.5 结论
5.5.1 测试结果的总结
5.5.2 测试结果分析与存在的问题
5.6 本章小结
6 电路设计的改进
6.1 高性能带隙基准源
6.1.1 温度系数的高阶补偿
6.1.2 电源抑制比的改善
6.1.3 器件的修调
6.2 片内参考电压的产生及其缓冲
6.2.1 基于片上基准源产生参考电压
6.2.2 使用电源和地作为参考电压
6.3 低阈值电压MOS管及其应用
6.3.1 低阈值电压MOS管
6.3.2 低阈值电压CMOS开关
6.4 本章小结
7 总结与展望
7.1 总结
7.2 展望
参考文献
作者简历及在学期间所取得的科研成果
作者简历
发表和录用的文章及专利
