声明
致谢
摘要
1 绪论
1.1 研究背景论述
1.2 射频开关芯片研究现状
1.2.1 射频开关常见工艺
1.2.2 砷化镓pHEMT工艺简述
1.2.3 FET型开关的模型
1.2.4 宽带射频开关现状分析
1.3 论文主要架构内容安排
1.3.1 研究内容
1.3.2 论文组织结构
2 开关设计理论基础
2.1 小信号性能参数理论分析
2.1.1 散射参量理论
2.1.2 开关的主要性能参数
2.2 设计方案及拓扑结构选择
2.2.1 开关电路拓扑结构
2.2.2 非对称开关拓扑结构
2.3 并联支路功率处理能力分析
2.3.1 串联结构耐受功率分析
2.3.2 并联结构耐受功率分析
3 高线性宽带开关芯片设计及仿真
3.1 具体管芯性能分析
3.2 三栅管芯的结构设计
3.3 实际设计中的考虑
3.3.1 散热收发切换时间问题分析
3.3.2 负载失配
3.4 系统具体电路设计与仿真
3.4.1 射频微波开关性能指标
3.4.2 电路拓扑
3.4.3 电路关键参数计算
3.4.4 电路仿真
3.5 版图设计原则及开关芯片版图
4 射频微波开关流片及芯片测试
4.1 流片加工
4.2 性能测试
4.2.1 测试准备内容
4.2.2 测试搭楚及流程
4.2.3 芯片测试结果
4.2.4 芯片测试结果分析
5 总结与展望
5.1 论文研究总结
5.2 工作展望
参考文献
作者简历及在学期间取得的科研成果