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第一章无铅化概述
1.1无铅化的原因
1.2电子行业无铅化现状
1.3本文所做的主要工作
第二章晶须
2.1晶须的定义
2.2晶须的种类
2.3晶须的发现
2.4电子制品中产生的晶须
第三章锡晶须产生的机理
3.1简介
3.2锡晶须的生长
3.3锡晶须对电子产品的影响
3.3.1在低电压高阻抗产生稳定的短路回路
3.3.2瞬间短路
3.3.3金属蒸气弧
3.3.4残片和污染
第四章锡晶须生长测试
4.1初始测试
4.2浸浴测试
4.3加热循环测试
第五章锡晶须生长的评估方法
5.1概述
5.2抑制方法
5.2.1数学计算方法
5.2.2参数解释
5.3震荡器中无铅化的应用
5.3.1无铅化中存在的问题
5.3.2无铅手焊接材料及设备工艺要求
5.3.3无铅钎料
5.3.4回流焊中出现的缺陷及其解决方案
5.3.5电子装配对无铅焊料的基本要求
5.3.6金属及其合金的选择和性能评估
5.3.7无铅焊锡膏的工艺要求
5.4无铅工艺过程的建立
5.4.1评估标准
5.4.2焊膏的钢网印刷评估
5.4.3回流曲线开发
5.4.4制造工艺中常遇到缺陷
5.4.5无铅化过渡的物流管理问题
5.4.6统计过程控制(SPC)
5.5无铅焊接的脆弱性
5.6无铅焊接技术测试和检测手段
结束语
参考文献
致谢