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目录
第一章 绪论
1.1粒子场的测量意义
1.2干涉粒子成像测量(IPI)技术的国内外发展状况
1.3课题来源及论文的主要工作
1.4小结
第二章 干涉粒子成像测量原理与测量系统分析
2.1粒子散射光强分布计算
2.2 IPI成像基本原理
2.3双光束照射IPI测量系统分析
2.4粒子速度测量基本原理
2.5小结
第三章 粒子离焦像与聚焦像图像处理算法
3.1引言
3.2粒子离焦像处理算法
3.3粒子聚焦像处理算法
3.4粒子速度测量
3.5小结
第四章 标准粒子尺寸与速度测量
4.1双光路IPI实验光路系统搭建
4.2标准粒子场测量
4.3小结
第五章 总结与展望
5.1论文研究成果
5.2研究工作展望
参考文献
发表论文和科研情况说明
致谢