首页> 中文学位 >基于工作流的电子产品研发缺陷跟踪系统的研究与设计
【6h】

基于工作流的电子产品研发缺陷跟踪系统的研究与设计

代理获取

目录

文摘

英文文摘

声明

第1章 绪 论

1.1研究背景和意义

1.2国内外研究现状

1.2.1缺陷跟踪系统研究

1.2.2工作流技术的研究

1.3本课题的主要研究内容

第2章 工作流技术与企业流程再造

2.1工作流的基本概念

2.2工作流参考模型

2.3基于工作流技术的企业流程再造

第3章 国内电子产品研发缺陷管理的现状分析

3.1电子产品研发缺陷产生的原因

3.1.1缺陷的定义

3.1.2缺陷的来源

3.2电子产品研发缺陷的跟踪管理

3.2.1缺陷的发现手段

3.2.2缺陷的描述

3.2.3缺陷的等级划分

3.2.4缺陷的生命周期

3.4国内电子产品研发缺陷管理现状分析

3.4.1电子产品的研发特点及现状分析

3.4.2电子产品研发缺陷管理所存在的问题

第4章 电子产品研发缺陷跟踪流程的分析与设计

4.1流程方案规划

4.1.1优化改进方向

4.1.2解决方案规划

4.2流程的角色划分

4.3流程设计

4.3.1缺陷提交

4.3.2缺陷初审

4.3.3缺陷分析和修复

4.3.4缺陷修复结果验证

4.4流程执行的原则

4.4.1常规原则

4.4.2所有权原则

4.4.3重复缺陷原则

4.4.4关闭原则

4.4.5升级原则

第5章 电子产品研发缺陷跟踪系统的设计

5.1系统概述

5.2技术方案的选择

5.3系统架构设计

5.4系统开发及应用模式设计

5.5系统功能设计

5.5.1系统功能框架设计

5.5.2用户管理模块设计

5.5.3缺陷跟踪流程模块设计

5.5.4工作台模块设计

5.5.5缺陷查询模块设计

5.6数据库设计

5.6.1工作流引擎系统数据表结构分析

5.6.2业务数据与流程数据的关联方案设计

5.6.2业务数据表设计

第6章 电子产品研发缺陷跟踪系统的实现

6.1开发环境介绍

6.2工作台模块的实现

6.3缺陷跟踪流程的实现

6.3.1缺陷提交功能的实现

6.3.2缺陷初审功能的实现

6.3.3缺陷分析、修复功能的实现

6.3.4缺陷修复验证功能的实现

6.4用户管理模块的实现

总结与展望

致 谢

参考文献

展开▼

摘要

在竞争日益激烈的电子行业中,如何适应快速变化的市场环境,缩短产品研发周期,提高产品质量是国内电子企业所面临的普遍问题。在研发缺陷管理方面,很多企业还停留在以OFFICE软件为载体的半手工化管理阶段,很难对缺陷进行有效的控制和管理,从而缺陷管理成为了研发质量进一步提高的瓶颈。本课题的研究是为了提高电子产品研发缺陷管理水平,加强产品研发过程中所产生的缺陷信息的采集过程的实时性、规范性和准确性,实现缺陷的动态跟踪和处理。同时,便于研发部门管理人员对缺陷相关信息进行进一步分析统计处理。
   本课题首先在充分调研的情况下,深入分析和研究了国内电子企业的研发缺陷管理现状,指出了所存在的主要问题和瓶颈。其次,本课题针对这些问题,结合工作流技术关键要素优化和重构了其核心的缺陷跟踪流程,站在流程管理角度,设计了一整套较完整的缺陷管理信息化解决方案,将缺陷信息以合理的结构组织和管理起来,并结合研发过程的进行,实现缺陷的上报、修复、验证的跟踪管理,规范产品研发缺陷信息的采集和流程的流转。再次,本课题运用普元EOS平台及其工作流引擎采用面向构件的开发方式设计并开发了针对我国电子产品研发缺陷跟踪管理的工作流信息系统,并已先后在广州、浙江、深圳某电子企业进行试用。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
代理获取

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号