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【6h】

EDXRF分析中吸收—增强效应的蒙特卡罗模拟

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摘要

第1章 引言

1.1 选题背景及意义

1.2 国内外研究现状

1.3 主要内容

第2章 X荧光分析理论基础

2.1 X射线与特征X射线

2.2 X射线与物质的相互作用

2.3 质量吸收系数与吸收限

2.4 X荧光分析理论公式

2.4.1 莫塞莱定律

2.4.2 初级X荧光强度的计算公式

2.4.3 次级荧光强度的计算

2.5 吸收-增强效应

第3章 蒙特卡罗方法简介

3.1 蒙特卡罗方法的发展与相关软件

3.2 MCNP5蒙特卡罗程序

第4章 蒙特卡罗模拟模型

4.1 蒙特卡罗模拟模型的建立

4.2 探测器响应函数

4.3 EDXRF实测数据求取GEB卡系数

4.4 高斯展宽模拟谱与实验谱对比

第5章 Fe-Cr、Fe-Mn、Cu-Zn二元样模拟结果

5.1 Fe-Cr二元样模拟结果

5.2 Fe-Mn二元样模拟结果

5.3 Cu-Zn二元样模拟结果

第6章 自动求取高斯展宽系数程序

结论

致谢

参考文献

攻读学位期间取得的学术成果

附录A 自动求取高斯展宽系数程序主要代码

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摘要

能量色散X射线荧光光谱分析(EDXRF),与其它元素分析方法相比,有着快速、多元素、对样品无损害等优点。广泛应用于野外地质样品分析、室内核素检测、建筑材料的放射性分析等方面。能量色散X射线荧光光谱分析中,吸收-增强效应对测量的准确度影响很大。在传统的X荧光光谱分析中,利用实验或者数学校正的方法对吸收-增强效应进行校正。在实际的工作中面临工作量大,检出限等方面的限制。本文结合蒙特卡罗(Monte Carlo)方法模拟能量色散X荧光分析。主要是对X荧光分析中吸收-增强效应进行模拟计算,对求取蒙特卡罗程序MCNP5中GEB高斯展宽系数的方法进行了讨论与验证。并使用MCNP5对常见的Fe-Cr、Fe-Mn,Cu-Zn三种二元合金中吸收-增强效应进行了模拟计算。编译基于visual studio 2010平台,自动求取GEB系数的MFC应用程序。
  本论文题目源自“863”计划项目“高精度能谱探测仪器研发”(项目编号:2012AA061803)。论文取得的成果有:
  1)依据能量色散X荧光分析的工作原理,使用IED-2000T手持多元素快速X荧光分析仪的具体物理参数建立了蒙特卡罗模拟软件MCNP5中的模拟模型。
  2)在能量色散X荧光分析的仪器谱中,荧光计数遵从高斯分布。利用高斯分布的标准差求取能量色散型IED-2000T手持式多元素快速X荧光分析仪中某全能峰的半高宽,利用上述数据求取MCNP5程序中GEB高斯展宽系数卡中的系数a,b,c,模拟计算Fe,Cu,Cr的X荧光,将模拟能谱与实测能谱进行比对,取得了模拟能谱与实测能谱几乎完全一致的结果,验证了在用MCNP5模拟能量色散X荧光分析时,用仪器谱中高斯分布的标准差求取GEB高斯展宽系数的可行性。
  3)对常见的二元系样品Fe-Cr,Fe-Mn,Cu-Zn合金,进行了不同含量情况下的蒙特卡罗模拟计算,得到了元素含量与特征峰相对强度的关系曲线。得出的二元样品中吸收-增强效应情况与理论一致。验证了蒙特卡罗方法用于模拟X荧光分析中吸收-增强效应的可行性,为进一步的无标样分析打下了基础。
  4)基于visual studi0 2010平台,编译利用仪器谱数据求取MCNP5程序中GEB卡中系数a,b,c的MFC应用程序。实现导入仪器能谱数据,自动求取系数。减少了求取MCNP5中GEB卡系数的步骤与计算。

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