超高速并行光电模块的电子干扰以及传输信号的研究

摘要

信息传输速率的需求随着信息量的增加而增大，系统的要求越来越高，作为系统的子系统，超高速模块的诞生也成为大势所趋，随着技术的日渐成熟，并行模块逐步在短距离传输中崭露头角，并行模块成本低、易维护，是构建未来低成本，低能耗，高扩展性的光通信系统的必要部件。
　　光模块在走向小型化，高速率，低功耗，低成本，传输距离远的同时，设计难度不断增加，测试难度和复杂度也随之增加。本文主要介绍超高速并行光模块的传输信号测试及EMI（Electromagnetic Interference）的测试。
　　并行光模块测试的难点主要体现在两个方面。第一个方面，随着信号速率的提升，测试的难度和复杂度迅速提升。当信号速率达到25G时，传统的方法难以获得稳定的测试结果。本文提出了一种更加适用的方案，通过增加采集点，增加拟合次数，来提高灵敏度的测试精度。我们的实验结果表明，该测试方法不论在测试精度上还是测试时间上都有明显的效果。
　　第二个方面，模块的小型化导致设计密度提高，EMI设计变得更为复杂，有效的测试对于降低设计成本，缩短设计周期尤为重要。本文提出了一种在研发阶段的预测试方法。测试设计费用相对低廉，容易实现，通过常规的设备进行简单的搭建就可实现，这样也就降低了模块研发过程中用于EMI测试的费用。不但提高了模块EMI测试一次成功的可能性，而且在市场竞争中也抢的先机。

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第一章 引言

1.1背景

1.2超高速并行光电模块的组成结构

1.3超高速并行光模块的制造工艺

1.4超高速并行光模块的测试意义和难点

1.5 本论文的工作和论文组织结构

第二章 超高速光电模块测试基本方法学和测试协议

2.1 模块测试的基本过程

2.2模块测试的测试协议

小结

第三章 超高速并行光模块性能测试技术及优化

3.1 测试的重要性

3.2 测试的意义

3.3 各项参数的意义

3.4 基于灵敏度的优化测试方法

3.5 优化测试方法性能分析和比较

小结

第四章 超高速并行光模块的EMI预测试

4.1 EMI测试的基本方法

4.2一种简易的EMI预测试方法

4.3测试数据及效果

小结

第五章 总结和展望

5.1 总结

5.2 前景展望

致谢

参考文献