质子、氦对D、T弹性散射截面的测量研究

摘要

离子束分析技术是一种常规的材料表面分析的工具,具有无损、简便、精确等优点。包括弹性背散射分析、前向弹性反冲分析和核反应分析。
　　 本论文主要采用弹性背散射方法(EBS)和前向弹性反冲探测法(ERD)。
　　 分别在背散射角155°、165°处,采用Ti吸氘、氚的薄靶,对能量从1.4到3.4MeV的质子的非卢瑟福弹性背散射截面D(P,P)D、T(P,P)T进行了测量。质子束由9SDH-2型2×3MV串列加速器提供,测量仪器采用金硅面垒探测能谱仪。实验误差小于7.5％,将部分测量结果与前人发表的结果进行了比较,符合得较好。
　　 用2.4～7.4MeV的-4He离子束轰击Ti-D、Ti-T样品,测量了在前向30°方向上的D(4He,D)4He、T(4He,T)4He的ERD截面。实验结果分别以列表形式和激发曲线形式给出,误差小于8％。所测量的数据可供从事离子束分析技术的有关人员参考。
　　 最后,论文介绍了非卢瑟福背散射截面值的典型应用,对一些样品做了有意义的元素成分浓度分析。