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第一章绪论
1.1.课题来源及意义
1.2.国内外同类可利用资源开发状况
1.3.研制测试系统所需的关键技术
1.4.本论文的研究内容和预期目标
1.5.论文结构安排
第二章控制分组件测试系统概述
2.1.测试系统的硬件组成
2.2.测试原理
2.3.测试项目
2.4.测试系统核心模块的功能
2.4.1.BMK接口板的性能要求与技术指标
2.4.2.并行数据记录板的性能要求与技术指标
2.4.3.A/D转换接口板的性能要求与技术指标
2.4.4.电源监控板的性能要求与技术指标
2.5.本章小结
第三章测试系统的设计方法与关键技术
3.1.EDA技术及其优点
3.2.TOP-Down的设计方法
3.3.VHDL语言编程技术
3.4.FPGA和CPLD技术
3.4.1.FPGA与CPLD的特点
3.4.2.FPGA与CPLD的比较与选型
3.4.3.用EDA方法开发FPGA与CPLD的工作流程
3.4.4.用EDA方法开发FPGA与CPLD的注意事项
3.5.PCI局部总线技术
3.5.1.PCI总线的发展背景
3.5.2.PCI总线的特点
3.5.3.PCI总线与其它扩展总线的比较
3.5.4.PCI总线传输协议
3.5.5.PCI总线的开发目标及发展趋势
3.6.测试系统的开发工具
3.6.1.MAX+PlusⅡ开发工具
3.6.2.Active-HDL开发工具
3.6.3.Protel电子电路设计软件
3.7.本章小结
第四章PCI接口逻辑的设计
4.1.PCI总线接口电路的组成
4.2.PCI总线接口逻辑的实现途径
4.2.1.采用专用芯片进行设计
4.2.2.采用IPcore进行设计
4.2.3.采用PLD可编程逻辑器件进行设计
4.3.用PLD设计PCI接口逻辑
4.3.1.逻辑简化
4.3.2.PCI总线的传输过程
4.3.3.PCI接口逻辑的具体实现
4.4.PCI接口逻辑的仿真与调试
4.4.1.时序仿真
4.4.2.功能测试及其原理
4.5.本章小结
第五章测试系统硬件接口板的研制
5.1.BMK接口板的设计
5.1.1.BMK接口板的功能
5.1.2.BMK接口板的组成
5.1.3.BMK接口板的逻辑设计
5.2.并行数据记录板的设计
5.2.1.并行数据记录板的功能
5.2.2.并行数据记录板的组成
5.2.3.并行数据记录板的逻辑设计
5.2.4.并行数据记录板的仿真与调试
5.3.电源监控板的双口RAM的设计
5.4.测试系统的硬件实现
5.4.1.测试系统的设计结果
5.4.2.芯片资源利用率分析
5.5.本章小结
第六章总结与展望
致 谢
参考文献
声明书
西北工业大学;