声明
摘要
1 绪论
1.1 本文研究意义
1.2 光谱分析技术的发展现状
1.3 本文研究的主要目的和任务
2 光电光谱分析原理
2.1 光电直读光谱仪结构及其工作原理
2.2 光电光谱分析基本原理
2.3 光电光谱的定量分析
2.3.1 三标准试样法的数学模型
2.3.2 折线法拟合曲线
3.1 光谱分析中各种分析误差来源
3.1.1 标准样品与分析样品性质不同引起的误差
3.1.2 第三元素引起的误差
3.1.3 光谱背景及其抑制
3.1.4 合金的基体波动对光谱分析的影响及排除
3.2 光谱分析中各种分析误差排除方法
3.2.1 工作曲线标准化
3.2.2 控制试样法
3.2.3 干扰元素的修正
4 建立各种分析模式及实施过程
4.1 建立Assay分析模式
4.1.1 分析条件的选择
4.1.2 标准化试样的选择
4.2 Grade分析模式数据库的建立
4.2.1 分级参数设置
4.2.2 建立分级表
5 方法的评估及其实施结果
5.1 方法的评估
5.1.1 评估方法的生产要求
5.1.2 评估的设计思想
5.1.3 评估分析工作流程图及评估分析程序
5.1.4 实施结果
5.2 实验结果与分析
6 全文总结
致谢
参考文献
上学期间论文及主要的工作业绩
附录