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声明
第一章绪论
§1.1引言
§1.2自动测试系统的发展与研究现状
1.2.1 自动测试系统的发展历史
1.2.2 国内外自动测试技术的研究现状
1.2.3 自动测试技术的发展趋势
§1.3论文的内容安排
第二章动目标显示技术
§2.1引言
§2.2 几种优化的AMTI算法
2.2.1线性预测算法
2.2.2匹配算法
2.2.3特征矢量法
§2.3各种算法的性能分析
§2.4 MTI技术的硬件实现
2.4.1杂波抑制滤波器
2.4.2幅相计算
2.4.3和差归一
2.4.4 CFAR检测
2.4.5噪声恒虚警电路
2.4.6检测结果合成
第三章动目标检测技术
§3.1引言
§3.2 MTD的基本原理
§3.3检测处理方法
3.3.1恒虚警检测
3.3.2超杂波检测
第四章杂波抑制电路板的自动测试
§4.1引言
§4.2自动测试设备ATE M9100的硬件概况
4.2.1概述
4.2.2 M9100系列DTI子系统的组成
§4.3杂波抑制电路板相关硬件模型的建立
4.3.1 RAM (IDT7M4084)的建模
4.3.2 FIFO(IDT72275)的建模
4.3.3 FPGA的建模
§4.4电路网表的建立
§4.5激励向量的建立
§4.6自动测试的实现
4.6.1 LASAR软件仿真
4.6.2调试
4.6.3实验数据分析
结束语
致谢
参考文献
攻读硕士期间发表的论文与研究成果