小鼠皮质神经元缺血再灌注后胞浆内游离钙离子变化和神经元损伤的实验研究

摘要

神经元本身因缺血引起损伤以及缺血后再灌注导致神经元损伤是缺血性脑损伤的两大原因，二者均伴有神经元胞浆内钙离子浓度增高，胞浆内钙离子变化的重要意义倍受研究者的关注，它可能是各种损伤因素作用的结果，也可能是造成脑缺血损伤的各种因素最后作用的共同通路，即各种因素最后是通过增高的钙离子来产生神经毒性。尽管目前认为神经元胞浆内钙离子升高不是缺血性脑损伤的必要条件，但在缺血条件下，钙离子可能是神经元缺血性级联损伤的主要激活因子之一。本实验利用共聚焦荧光显微镜、透射电镜、荧光显微镜、倒置显微镜等实验仪器，采用免疫荧光法、脱氧核糖核苷酸末端酶介导的缺口末端标记法(TUEL法)、透射电镜法，并借助钙通道拮抗剂-氟桂利嗪，作为干预因素，观察体外神经元类缺血处理后以及类缺血后再灌注不同时间胞浆内钙离子变化、神经元的细胞活性变化、神经元的超微结构变化，以探讨缺血性神经元损伤时钙离子的变化、神经元凋亡的发生情况及意义。试图为缺血性脑损伤的研究提供简便的模型，为缺血性脑损伤的发生机制提供实验依据。

目录

缩略词表

前言

文献回顾

实验一 小鼠皮质神经元的原代培养及鉴定

实验二 共聚焦荧光显微镜监测神经元缺血再灌注后胞浆内游钙离子变化

实验三 透射电镜观察缺血/再灌注后神经元超微结构变化

实验四 TUNEL法观察缺血/再灌注后神经元凋亡的实验研究

结论

致谢

附图