摘要
引言
第一章 北京正负电子对撞机和北京谱仪
1.1.北京正负电子对撞机
1.2.BESⅢ探测器
1.2.1.主漂移室(MDC)
1.2.2.飞行时间探测器(TOF)
1.2.3.电磁量能器(EMC)
1.2.4.μ子鉴别器
第二章 BESⅢ CsI(Tl)晶体电磁量能器以及晶体的测量
2.1.BESⅢ电磁量能器概述
2.2.电磁量能器中晶体的分布
2.3.电磁量能器晶体尺寸的测量
2.3.1.校准百分表
2.3.2.读入晶体资料
2.3.3.读入晶体数据并分析
2.3.4.输出并存贮结果
2.4.晶体的光产额与均匀性的测量
2.4.1.晶体相对光输出及相对光输出均匀性的检测
2.4.2.测量的具体步骤
2.4.3.晶体的相对光输出与均匀性的测量结果
第三章 标准模型和D介子物理简介
3.1 标准模型理论
3.2 D介子物理
3.2.1 D介子的发现
3.2.2 D介子的产生
3.2.3 D介子的衰变
第四章 D→(K)ππ的Dalitz图分析
4.1 带电粒子的选择
4.2 Ks0的选择和鉴别
4.2.1 Ks0衰变次级顶点的重建
4.2.2 Ks0的衰变产物π±的选择和鉴别
4.2.3 Ks0的选择条件
4.3 光子的选择与鉴别
4.4 Dalitz图分析的事例选择
4.5 Dalitz图分析的方法与工具
4.5.1 两体衰变矩阵元的螺旋度振幅形式简介
4.5.2 振幅公式
4.5.3 最大似然函数的构造
4.5.4 D→(K)ππ衰变振幅与似然函数的构造
4.6 D→(K)ππ的Dalitz图分析
4.6.1 本底的参数化处理
4.6.2 D→(K)ππ的拟和结果
4.7 测量中的误差处理
4.7.1 统计误差
4.7.2 系统误差
第五章 总结与展望
参考文献
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致谢
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