边耦合T型量子点系统的全计数统计研究

摘要

本文基于粒子数分辨的量子主方程，研究了电子通过边耦合T型双量子点系统的全计数统计。首先，分析了量子相干性对系统全计数统计的影响。当点间隧穿耦合强度J相对于中间量子点与左右电极的耦合强度Γ较弱时，噪声特性主要由电子两条隧穿路径之间的相干效应决定，即系统约化密度矩阵的非对角元起主要作用，并且当它们的比值J/Γ小于某一数值（约为1/3）时，观察到超泊松噪声，这一特性可以用快慢输运通道解释。当点间隧穿耦合强度较强时，随着其强度的增强，量子相干效应对电子全计数统计的影响逐渐减弱，即约化密度矩阵的对角元将起主要作用，此时没有观察到超泊松噪声。其次，研究了系统基态对其全计数统计的影响，发现与由系统单占据本征态到空占据本征态的转变，或者双占据本征态到单占据本征态的转变形成的第一个电流台阶相应的电流散粒噪声都可以出现超泊松分布，这种特性同样可以用快慢输运通道解释。

目录

摘要

第一章 绪论

1．1 引言

1．2 量子点

1．3 量子点的输运特性

1．4 电子输运和散粒噪声

1．5 本文的主要研究内容

第二章 量子主方程方法

2．1 引言

2．2 量子主方程方法

2．3 小结

第三章 电子通过T型双量子点系统的全计数统计

3．1 引言

3．2 理论模型与方法

3．3 电子自旋对系统量子输运的影响

3．4 量子相干性对系统全计数统计的影响

3．5 T型双量子点基态对系统全计数统计的影响

3．6 小结

第四章 总结

参考文献

在校期间发表的论文

致谢

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