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摘要
第一章 引言
1.1 标准模型
1.2 D介子物理
1.3 选题背景
1.4 论文结构
第二章 北京正负电子对撞机和北京谱仪
2.2 北京谱仪(BES Ⅲ)
2.2.2 BES Ⅲ探测器的总体性能
2.2.3 束流管
2.2.4 主漂移室
2.2.5 飞行时间计数器
2.2.6 电磁量能器
2.2.7 μ子鉴别器
2.2.8 超导磁体
2.2.9 触发判选系统
2.2.10 电子学系统
2.2.11 在线数据获取系统
2.3.2 BES Ⅲ离线数据框架
2.3.3 BES Ⅲ探测器模拟系统
2.3.5 BES Ⅲ离线刻度系统
2.3.6 BES Ⅲ物理分析工具软件
2.4 本章小结
第三章 粒子重建及其判选标准
3.1 带电及中性径迹的判选
3.1.1 带电径迹的判选条件
3.1.2 中性径迹的判选条件
3.2 粒子重建
3.2.1 粒子鉴别
3.2.3 K0S的重建
3.2.4 K0L的重建
3.3 D介子的重建
3.4 本章小结
第四章 衰变道D+→K0S,LK+(π0)绝对分支比测量及其CP破坏的寻找
4.1 分析方法
4.2 数据与蒙特卡洛样本
4.3 单标记
4.3.1 事例选择
4.3.2 数据中的单标记产额
4.4 双标记
4.4.1 事例选择
4.4.2 数据中的双标记产额
4.5 K0L效率修正
4.6 条件效率
4.7 信号道的分支比
4.8 CP不对称参数的测量
4.8.1 分支比测量方法寻找CP破缺
4.8.2 Dalitz图分区方法寻找CP破缺
4.9 系统误差
4.9.1 K介子的寻迹效率
4.9.2 K介子的粒子鉴别效率
4.9.4 K0S效率修正
4.9.5 K0L效率修正
4.9.6 额外的x2条件
4.9.7 共振态子结构
4.9.9 双标记的MBC拟合
4.9.10 双标记中的峰状本底
4.9.11 ΔE条件
4.10 结果与讨论
4.10.1 分支比测量
4.10.2 CP不对称参数的测量
4.11 正确性检测
4.11.1 分支比测量方法的检测
4.11.2 ΔE筛选条件的检测
4.11.3 条件效率的检测
4.12 本章小结
第五章 衰变道D+→K0SK+π0的Dalitz图分析
5.1 事例选择
5.2 拟合方法
5.2.1 概率密度函数
5.2.2 效率参数化
5.2.3 本底参数化
5.2.4 Dalitz图拟合
5.3 输入输出检查
5.4 本章小结
第六章 D介子主要衰变道的ΔE系统误差研究
6.1 研究方法
6.2 ΔE范围要求
6.3 二维拟合
6.4 本章小结
第七章 总结与展望
7.3 D介子主要衰变道的ΔE系统误差研究
附录
参考文献
致谢
发表的论文