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XP-endo Finisher 锉对根管内壁玷污层清除效果影响的体外研究

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缩略词表

第1章 引言

第2章 材料和方法

2.1 材料和设备

2.2 实验方法

2.2.1 实验样本的收集和预处理

2.2.2 根管预备

2.2.3 实验分组及处理

2.2.4 扫描电镜观察

2.3 数据处理

第3章 结果

第4章 讨论

第5章 结论与展望

5.1结论

5.2 展望

致谢

参考文献

攻读学位期间的研究成果

综述:XP-endo 系列镍钛锉的研究进展

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摘要

目的: 评估根管预备后XP-endo FinisheFile(XPF)与被动超声冲洗(PUI)对根管内壁玷污层的清除效果。旨在为临床操作选择合适的根管预备方法提供依据。 方法: 选择60颗离体单直根管下颌前磨牙,截冠,所有根管标准化工作长度为16mm,再将10号K锉插至锉尖处时,热牙胶封闭根尖孔及根尖外表面。采用S3镍钛锉预备到3S,根据终末冲洗方式不同将样本随机分成6组:A组:3ml3%次氯酸钠溶液联合XPF处理1分钟;B组:3ml3%次氯酸钠溶液联合XPF处理1分钟后,用4ml17%EDTA溶液冲洗1分钟;C组:3ml3%次氯酸钠溶液联合超声处理1分钟;D组:3ml3%次氯酸钠溶液联合超声处理1分钟后,用4ml17%EDTA溶液冲洗1分钟;E组:3ml3%次氯酸钠溶液30号侧方冲洗针冲洗1分钟;F组:3ml3%次氯酸钠溶液30号侧方冲洗针冲洗1分钟后,用4ml17%EDTA溶液冲洗1分钟。采用扫描电镜观察,分别比较根尖1/3区、根中1/3区牙本质小管开口数和根管壁玷污层清除效果。 结果: 1.在根尖1/3区和根中1/3区,B组与D组牙本质小管开口数明显高于其他四组(P<0.05),前两者无统计学差异(P>0.05); 2.在根尖1/3区和根中1/3区,A组与C组牙本质小管开口数明显高于E组(P<0.05),A组与C组无统计学差异(P>0.05)。 结论: XPF对根管内壁的清洁效果与 PUI无明显差异,可用于根管预备后提高根管清洁效果。

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