声明
摘要
1 绪论
1.1 研究背景意义
1.2 平面度检定技术现状
1.3 本论文主要的研究工作
2 平面度测量系统
2.1 干涉原理及干涉仪
2.1.1 干涉原理
2.1.2 干涉仪的分类
2.1.3 等倾和等厚干涉基本原理
2.1.4 等厚干涉仪的分类
2.2 平晶分类与检测
2.2.1 平晶的定义
2.2.2 性能要求
2.3 常见的检定方法
2.3.1 等厚法
2.3.2 等倾法
2.3.3 多面互检
2.3.4 三种检定方法的对比
2.4 本章小结
3.PJ15-J4型干涉仪的改进
3.1 PG15-J4型等厚干涉仪的结构
3.1.1 干涉仪系统参数
3.1.2 相干光波的计算
3.2 CCD相机
3.2.1 CCD相机分类
3.2.2 CCD图像测量技术
3.2.3 DC130数字摄像机
3.3 接收系统的改造
3.3.1 激光扩束系统
3.3.2 CCD镜头的计算与选择
3.4 本章小结
4 干涉条纹的数字处理技术
4.1 干涉图像预处理
4.1.1 对比度线性展宽
4.1.2 图像相减
4.2 干涉图像的滤波
4.2.1 线性滤波器
4.2.2 非线性滤波器
4.2.3 实例对比
4.3 图像二值处理
4.3.1 几种常见的二值化法
4.3.2 实例对比
4.4 开运算与闭运算
4.5 图像的细化处理
4.5.1 细化算法原理
4.5.2 仿真实现
4.6 条纹的修正和标记
4.7 本章小结
5 测量结果及数据处理
5.1 面形偏差的指标
5.1.1 光圈指标
5.1.2 数字波面指标
5.1.3 两种指标的关系
5.2 仪器的调整及测量
5.2.1 仪器的调整
5.2.2 数据测量
5.3 不确定度分析
5.3.1 方差和传播系数
5.3.2 输入量的标准不确定度来源
5.3.3 合成不确定度与扩展不确定度
5.4 本章小结
6 总结与展望
致谢
参考文献