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第一章绪论
§1.1引言
§1.2光电检测技术现状及发展趋势
§1.3课题来源、研究目的及意义
1.3.1课题来源
1.3.2研究目的及意义
§1.4大直径检测的国内外现状
§1.5本文研究的主要内容及主要技术指标
1.5.1本文研究的主要内容
1.5.2系统主要技术指标
第二章总体设计方案
§2.1总体设计思想
§2.2系统的组成与总体结构的布局
2.2.1系统的组成
2.2.2系统总体结构
2.2.3系统基本功能特点
§2.3系统检测原理
2.3.1工件外径与内径的检测原理
2.3.2圆度误差检测原理
2.3.3同轴度误差检测原理
第三章光电检测系统与原理
§3.1激光三角法位移检测技术
3.1.1工作原理与理论分析
3.1.2测量系统设计
3.1.3光源及敏感器PSD的选择
§3.2光栅位移检测技术
3.2.1光栅位移检测基本原理
第四章精密机械系统设计
§4.1精密位移电控平移台
§4.2精密电控旋转台
§4.3步进电机控制器
§4.4测杆设计
§4.5联接件设计
第五章电学系统硬件设计和计算机控制
§5.1激光测头的电学控制系统
5.1.1电学系统框图
5.1.2 PSD前置处理电路
5.1.3 A/D转换电路
§5.2计算机控制与数据处理系统设计
5.2.1计算机硬件选择
5.2.2计算机软件设计
第六章实验结果及误差分析
§6.1实验结果
6.1.1.实验条件与实验方法
6.1.2直径检测结果
6.1.3圆度误差检测结果
6.1.4同轴度误差检测结果
§6.2系统直径检测主要误差来源及分析
6.2.1半导体激光测头精度对系统直径检测误差的影响
6.2.2光栅位移检测精度对系统直径检测误差的影响
6.2.3阿贝误差分析
6.2.4半导体激光测头不垂直偏离工件轴心引起的误差
6.2.5光栅位移检测步长对系统直径检测误差的影响
6.2.6系统直径检测误差的合成
§6.3系统圆度检测误差来源与分析
§6.4系统同轴度检测误差来源与分析
§6.5误差分析结论
结论
参考文献
致谢