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防离子反馈膜离子阻挡特性测试及其影响因素研究

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摘要

第一章 绪论

1.1 概述

1.2 研究的目的与意义

1.3 论文的主要研究内容

第二章 测试系统设计

2.1 测试原理

2.2 离子探测器的选取

2.3 CEM的主要工作参数

2.4 测试系统的核心设计

第三章 测试组件结构优化

3.1 求解电场的几种方法

3.2 FEM的原理及其在系统中的应用

3.3 FEM在系统中的实现

3.4 电场仿真结果分析与组件结构优化

第四章 测试系统的数据采集处理

4.1 数据处理方法的选用与实现

4.2 测试结果的脉冲幅度分析

4.3 离子计数

第五章 测试系统的影响因素研究及测试结果分析

5.1 测试系统中的影响因素研究

5.2 测试结果分析

总结

致谢

参考文献

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摘要

防离子反馈膜是一层覆盖在微通道板输入面上的Al2O3或SiO2膜,用以阻挡因为气体分子电离而产生的反馈离子,能够大大提升三代夜视器件的寿命。在测试防离子反馈膜的过程中,需要一种测试系统,能够对真空中微弱离子流进行检测,实现离子的计数功能。
  本文设计了防离子反馈膜的测试系统,能够检测真空中的离子流,并且得到防离子反馈膜的离子阻挡特性。系统中使用了单通道电子倍增器(CEM)作为离子探测器,通过对CEM特性的研究后,开展了两项核心工作:对测试组件的电场分析与仿真工作,这能够优化测试组件的结构;对测试结果中信号的脉冲幅度分析工作,这能将测试结果中的信号与噪声分离,提高系统的性能与测试的准确性。
  系统中电场的分析与仿真采用有限元分析的方法,使用Ansoft Maxwell电磁场有限元仿真软件来实现。测试结果的脉冲幅度分析通过多通道脉冲幅度分析仪来实现,最后提出使用自动定标器来实现离子的准确计数。
  在文章的最后分析了系统中的影响因素,提出了相对的改善措施。并且分析了测试中得到的结果。本文的防离子反馈膜离子阻挡特性测试系统实现了对三代微光夜视器件使用中产生的反馈离子进行探测的目的。

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