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论文说明:图表目录
声明
第1章绪论
1.1研究背景及任务
1.2测试向量生成方法的研究概况
1.3 FPGA开发概述
1.3.1 FPGA技术
1.3.2 FPGA设计方法
1.3.3 FPGA实现技术的优点
1.4本论文主要工作及组织结构
第2章数字集成电路测试和遗传算法基本理论
2.1数字集成电路测试基础
2.1.1基本原理
2.1.2基本概念
2.1.3故障和故障模型
2.2遗传算法简介
2.2.1基本概念
2.2.2遗传算法的运行过程
2.2.3遗传算法的基本特点
2.3遗传算法用于测试生成和硬件化研究概况
2.4小结
第3章基于遗传算法的测试生成的FPGA实现研究
3.1由被测电路自己产生测试向量的测试生成方法
3.2系统结构设计及关键技术
3.2.1系统结构设计
3.2.2实现的关键技术
3.3主要功能模块的实现
3.3.1存储器模块
3.3.2随机数模块
3.3.3控制模块
3.3.4选择模块
3.3.5交叉变异模块
3.3.6适应度模块
3.4小结
第4章故障模拟器的FPGA实现研究
4.1故障模拟基础
4.1.1故障模拟问题
4.1.2故障压缩和故障摘除
4.1.3故障模拟的典型应用
4.2故障模拟器的FPGA实现
4.2.1系统结构设计
4.2.2注入故障的电路的实现
4.2.3存储器模块的实现
4.2.4控制模块的实现
4.3小结
第5章功能测试及性能分析
5.1各模块的功能测试
5.1.1随机数模块的仿真
5.1.2控制模块的仿真
5.1.3选择模块的仿真
5.1.4交叉变异模块的仿真
5.1.5适应度模块的仿真
5.1.6顶层模块的仿真
5.2系统性能分析
5.3小结
结论
参考文献
致谢
附录