声明
第1章 绪论
1.1 研究背景及意义
1.2 国内外研究现状
1.3 本文主要工作及组织结构
第2章 集成电路测试概念和内建自测试
2.1 集成电路测试概念
2.2 内建自测试概述
2.3 内建自测试测试产生方法
2.4 基于拆分测试集的新技术
2.5 本章小结
第3章 基于分组的谱变换伪随机测试方法
3.1 哈达玛变换
3.2 PRMOPT方法概述
3.3 硬件设计
3.4 实验结果
3.5 本章小结
第4章 部分谱变换的受控随机测试方法
4.1 受控LFSR随机产生
4.2 实验方法描述以及过程
4.3 硬件设计
4.4 实验结果
4.5 本章小结
结论
参考文献
致谢