基于ARM的频率特性分析仪的设计

摘要

扫频仪也称频率特性测试仪(Frequency Response Analyzer),它主要用于测试系统的频率特性,在现代电子测量中占有重要的位置。运用正弦扫频激励信号对被测系统进行快速的动态测量,可以得到被测系统的频率特性,该方法具有试验时间短,便于实现等优点。
　　 本文将阐述基于高性能DDS芯片AD9850和专用的增益相位检测芯片AD8302的频率特性分析仪的设计。该仪器以DDS芯片AD9850为核心产生扫频信号,以增益相位检测芯片AD8302为核心构成检测电路,以ARM芯片S3C2440为核心控制器实现对被测系统的频率特性的检测。本仪器具有强大的处理能力,方便的数据输入和输出功能,并通过清晰的图形曲线进行显示,能够在短时间内高精度地测量频率响应特性,并且操作极其简单。因此,该仪器可以更好地满足科研和工程设计的需要,具有一定的科研价值。