阻抗温度特性测试系统的设计与实现

摘要

阻抗是材料特性参数的表征物理量之一，通过对阻抗的测量可以反映出材料内在特性。温度对阻抗的影响在新材料的研究应用领域当中有着十分关键的作用。本文针对阻抗受温度的影响，提出了一种高效、方便的阻抗温度测试系统。
　　本课题是开发出一套简单易用的阻抗温度特性测试系统。测试系统由计算机终端、温控仪、安捷伦4294A阻抗分析仪等模块组成，整个系统基于VC++6.0平台开发的完成。在这些组成模块中，计算机终端模块是整个测试系统的核心，计算机与温控仪和安捷伦4294A阻抗分析仪的通信方式分别采用的是RS-485通信和网口通信。利用该系统对PTCR样片以及无铅陶瓷样片进行了阻抗温度测试。其中，在PTCR样片测试中，测试温度范围为40-320℃，测试频率范围为1KHz-10MHz;在无铅陶瓷样片测试中，测试温度范围为40-300℃，测试频率范围为150KHz-350KHz。测试完成后，将测试数据保存到Excel表格中，然后导入到Origin中通过阻抗温度变化趋势图进行分析。
　　经过测试表明：功能测试的结果表明软件的功能达到了所预期的目标。同时在测试之后通过对比测试材料的结果，更加直观的了解到阻抗-温度测试对于材料研究工作的重要性。

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1 绪论

1.1 课题的来源与研究意义

1.2材料电性能测试系统研究现状

1.3 本文的研究内容

2. 阻抗温度特性测试系统的整体设计

2.1引言

2.2 阻抗温度测试系统的设计原理

2.3系统整体框图

2.4系统软件设计

2.5本章小结

3 系统硬件设计

3.1 引言

3.2 测试系统硬件结构

3.3 整个系统的硬件部分

3.4 本章小结

4 系统软件设计

4.1 引言

4.2 安捷伦4294A阻抗分析仪

4.3 TCP/IP网口通信

4.4 PC与温控仪通讯

4.5 本章小结

5 系统运行及性能分析

5.1 系统集成

5.2 测试结果与分析

5.3本章小结

6 总结和展望

6.1 全文总结

6.2 展望

致谢

参考文献