摘要
第1章 绪论
1.1 多晶硅薄膜材料研究现状
1.1.1 多晶硅薄膜材料国内研究现状
1.1.2 多晶硅薄膜材料国外研究现状
1.2 多晶硅压力传感器研究现状
1.2.1 多晶硅压力传感器国内研究现状
1.2.1 多晶硅压力传感器国外研究现状
1.3 新型压力传感器研究现状
1.3.1 新型压力传感器国内研究现状
1.3.2 新型压力传感器国外研究现状
1.4 纳米多晶硅薄膜压力传感器研究目的和研究意义
1.4.1 研究目的
1.4.2 研究意义
1.5 论文主要研究内容
第2章 纳米多晶硅薄膜制备及特性研究
2.1 纳米多晶硅薄膜制备
2.2 纳米多晶硅薄膜微结构特性研究
2.2.1 XRD测试
2.2.2 扫描电子显微镜(SEM)分析
2.3 本章小结
第3章 纳米多晶硅薄膜压力传感器基本结构与工作原理
3.1 纳米多晶硅薄膜压力传感器基本结构
3.2 纳米多晶硅薄膜压力传感器工作原理
3.2.1 压阻效应
3.2.2 压敏结构工作原理
3.3 本章小结
第4章 纳米多晶硅薄膜压力传感器仿真分析
4.1 纳米多晶硅薄膜压力传感器硅膜特性分析
4.1.1 不同形状硅膜应力分析
4.1.2 压力传感器硅杯结构模型仿真分析
4.2 纳米多晶硅薄膜压力传感器电阻布局分析
4.3 纳米多晶硅薄膜承载能力分析
4.4 本章小结
第5章 纳米多晶硅薄膜压力传感器结构设计与制作工艺的研究
5.1 纳米多晶硅薄膜压力传感器结构设计
5.1.1 硅杯结构设计
5.1.2 纳米多晶硅薄膜压敏电阻分布位置设计
5.1.2 纵向纳米多晶硅薄膜电阻R3和R4位置设计
5.1.2 横向纳米多晶硅薄膜电阻R1和R2位置设计
5.2 纳米多晶硅薄膜压力传感器制作工艺
5.3 纳米多晶硅薄膜压力传感器版图设计
5.4 纳米多晶硅薄膜压力传感器芯片封装
5.5 本章小结
第6章 实验结果与讨论
6.1 纳米多晶硅薄膜压敏电阻I-V特性
6.2 纳米多晶硅薄膜压力传感器压敏特性
6.2.1 纳米多晶硅薄膜压敏电阻尺寸及分布位置对压敏特性的影响
6.2.2 纳米多晶硅薄膜厚度对压敏特性的影响
6.2.3 硅膜厚度对压敏特性的影响
6.3 纳米多晶硅薄膜压力传感器静态特性
6.3.1 线性度
6.3.2 重复性
6.3.3 迟滞
6.3.4 准确度
6.3.5 灵敏度
6.3.6 纳米多晶硅薄膜压力传感器温度特性
6.4 本章小结
结论
参考文献
致谢
攻读学位期间发表论文
攻读学位期间科研项目
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