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航天电磁继电器贮存可靠性退化试验与评价方法的研究

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第1章 绪 论

1 .1课题的研究背景

1 .2课题的研究目的和意义

1 .3可靠性退化试验研究现状

1 .4贮存可靠性研究现状

1 .5继电器可靠性研究现状

1 .6本文主要研究内容

第2章航天电磁继电器贮存可靠性退化试验系统

2 . 1引言

2 . 2航天继电器贮存性能监测参数分析

2 . 3试验系统总体方案设计

2 . 4试验系统硬件设计

2 . 5试验系统软件设计

2 . 6试验系统准确度测试

2 . 7本章小结

第3章航天电磁继电器贮存可靠性退化试验研究

3 . 1引言

3 . 2贮存失效的基本要素分析

3 .3航天电磁继电器贮存可靠性退化试验方案

3 . 4继电器贮存退化试验中监测参数的退化特性分析

3 .5本章小结

第4章航天继电器贮存失效机理分析与可靠性建模

4 . 1引言

4 . 2航天电磁继电器贮存失效机理分析

4 .3触点表面形貌与化学成分分析

4 . 4航天继电器贮存退化物理方程

4 . 5继电器贮存可靠性统计模型

4 . 6基于应力松弛的继电器吸合时间贮存退化建模

4 . 7基于扩散理论的继电器贮存等效动力学建模

4 . 8本章小结

第5章航天电磁继电器贮存可靠性评估及寿命预测

5 . 1引言

5 .2航天电磁继电器贮存可靠性评估模型

5 .3航天电磁继电器贮存可靠性评估

5 .4基于灰色神经网络的贮存退化参数组合预测方法

5 .5贮存回归退化模型及寿命预测

5 .6本草小结

结 论

参考文献

攻读博士学位期间发表的学术论文及其它成果

声明

致谢

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摘要

航天电磁继电器是国防武器系统中实现信号传递、负载切换、电路保护与控制、系统隔离等功能的关键机电元件。为了满足武器装备日益提高的战备需求,已有武器型号对航天电磁继电器提出了24年贮存期的指标要求。而目前对于航天电磁继电器这类高可靠长寿命机电元件的贮存可靠性关注较少,相关研究面临试验及检测水平不高、性能参数变化规律不明、失效模式与失效机理不清、评估与预测手段不足等一系列问题。因此,如何评估航天电磁继电器的贮存可靠性已成为亟待解决的重要问题。
  本文以“长期贮存,一次使用”的国防武器装备为应用背景,以型号产品中使用较为广泛的某航天电磁继电器为研究对象,提出一种基于性能退化的贮存可靠性试验及评价方法,通过对贮存退化试验过程特性参数变化情况分析与失效机理研究,对航天电磁继电器的贮存可靠性建模、贮存可靠性评估和相关退化参数的预测方法进行深入研究,可为武器装备系统的定寿与延寿提供技术支撑。
  首先,为了解决航天电磁继电器贮存可靠性退化数据的高精度、全自动获取问题,本文设计并实现了航天电磁继电器贮存退化试验系统。采用FPGA和ARM单片机为硬件核心架构,通过集散控制的方式建立多通道、高速的信号采集分析系统,可最多同步监测40支继电器触点压降、线圈电流,并设计了时间参数的软件算法。采用VC++面向对象的编程方法,设计实现继电器贮存退化试验的参数设置、退化参数的趋势显示、分析等功能的上位机软件系统。该测试分析系统时间参数的检测分辨率为1^,触点接触电阻的测试分辨率为0.01mQ。为航天电磁继电器贮存可靠性研究提供可靠退化数据与有效实验平台。
  然后,针对传统基于现场贮存的可靠性试验方法难以满足长寿命产品的贮存可靠性评价要求问题,本文对航天电磁继电器的贮存退化试验条件、试验方法、试验过程进行了探索性研究。采用图分析法及数理统计方法对试验获得的的继电器接触电阻及时间参数数据进行了分析,得到贮存条件下继电器各性能参数随时间的变化规律,在此基础上,将接触电阻与吸合时间确定为贮存退化的敏感参数。
  其次,从航天电磁继电器的功能、结构及贮存环境应力出发,从其传导特性的角度对继电器的贮存失效机理进行了分析,建立了退化物理模型及可靠性统计模型。采用SEM试验及EDX分析方法,定期对继电器触点进行微观形貌及化学成分变化分析,为继电器贮存失效机理分析提供依据。采用结合Larson-Miller经验公式建立了基于应力松弛的继电器吸合时间贮存退化模型。根据扩散理论,通过三维Fick方程建立了航天电磁继电器的触点贮存等效动力学模型,该模型将接触电阻的增长与环境温度、接触压降、接触压力等诸多因素进行了考虑和有效关联,为接触电阻的快速评估提供了理论指导。
  最后,针对现有的贮存可靠性评估方法多为静态、事后分析且默认产品符合某指定的分布类型并基于经验公式估算产品可靠性的问题,结合Holm电接触理论,在继电器触点贮存失效机理的研究基础上,建立了综合考虑接触电阻增长随机性与确定性的电磁继电器贮存可靠性评估模型。研究了评估模型的参数评估方法,并对航天电磁继电器的贮存可靠度进行了评估。综合人工神经网络非线性适应能力强,灰色系统理论弱化数据序列波动性的特点,建立了航天继电器贮存退化参数的G-ANN模型,并对接触电阻实测值进行了参数预测,结果表明短时预测精度较高。提出了时间序列分析与一维小波变换方法相结合的预测参数预处理方法,降低预测参数中随机信号对预测精度的影响。通过回归理论估计了贮存退化模型的参数,并通过所建模型对航天电磁继电器常温下的贮存寿命进行了预测。
  本研究为开展航天电磁继电器的贮存可靠性提供了必要的研究基础与研究手段,其关键技术与相关方法也可以推广应用到其它机电元件的贮存可靠性研究中。

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