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第1章绪论
1.1 电磁干扰及其危害
1.2研究现状和课题来源
1.3主要内容和章节安排
第2章理论基础
2.1 EMC概述
2.2 EMC测试场地
2.3电磁屏蔽的理论和技术
2.4 FDTD算法
第3章GTEM Cell内场分布的计算和测量
3.1用FDTD法计算空的GTEM Cell内的场分布
3.1.1网格剖分和差分方程
3.1.2激励源
3.1.3边界条件
3.1.4计算参数和峰值检测
3.1.5计算过程
3.1.6计算结果
3.2 GTEM Cell内场分布的测量
3.3计算放入金属DUT后的GTEM Cell内的场分布
3.4本章小结
第4章利用GTEM Cell测量屏蔽效果的试验
4.1机箱电磁屏蔽的设计
4.1.1缝隙的屏蔽方法
4.1.2通风孔的屏蔽处理
4.1.3表头的屏蔽
4.1.4调节轴开口和引线开口的屏蔽
4.1.5显示器的屏蔽
4.1.6双层屏蔽
4.2利用GTEM Cell测量屏蔽效果的试验
4.3计算机机箱的屏蔽效果
4.4 电缆屏蔽的影响
4.5本章小结
结束语
致谢
参考文献
附录1攻读学位期间发表的论文情况
附录2计算程序
附录3 GTEM Cell网格划分所得i,j,k取值
附录4放入DUT后k=98、111横截面上Ez的分布