CoCrPt/Ag薄膜磁性能和微结构的研究

摘要

本文在室温下，应用磁控溅射法制备了四个系列CoCrPt/Ag样品：Ag缓冲层厚度变化系列、退火温度变化系列、多层膜中Ag插层厚度变化系列和多层膜退火温度变化系列。文章用X射线衍射仪、振动样品磁强计和扫描探针显微镜系统分析了上述样品的微结构和磁特性。发现Ag缓冲层厚度(t=0，5，10，20，40，80nm)对于CoCrPt磁性层的微结构和磁性能有很大的影响。随着Ag层厚度的增加矫顽力Hc总体呈先上升后下降趋势，当Ag缓冲层厚为20nm时，矫顽力达到最大值1.75×105A/m，其结构为六角密积(hcp)结构，易轴位于面内。Ag缓冲层有效地降低了薄膜表面的粗糙度、颗粒和磁畴尺寸。

目录

文摘

英文文摘

第一章概论与选题背景

§1.1磁记录原理及对介质的要求

§1.2磁记录薄膜的磁性能

§1.3磁记录材料的历史和发展现状

§1.4选题背景及动机

第二章样品的制备及性能测试

§2.1样品的制备

§2.2薄膜样品的测试及原理

第三章CoCrPt/Ag系列薄膜微结构和磁性能的研究

§3.1Ag缓冲层对CoCrPt薄膜磁性能和微结构的影响

§3.2退火温度对CoCrPt/Ag薄膜磁性能和微结构的影响

§3.3多层膜中Ag插层厚度对CoCrPt介质的取向和磁性能的影响

§3.4退火温度对多层膜的微结构和磁性能的影响

第四章 结论

参考文献

硕士研究生期间发表论文及参加会议情况

致谢