高密度电阻率法探测局部异常体能力的研究

摘要

本文首先阐述了有限元法二维直流电阻率法数值计算的原理,根据有限元法利用fortran90开发工具编写了二维点源和双点源正演程序,以此为基础实现了二维电阻率法温纳α装置、温纳β装置、对称四极装置和三极装置的正演计算。
　　在探讨温纳α装置、温纳β装置、对称四极装置、三极装置及联合剖面法对二维局部异常体的探测能力过程中,通过改变二维局部异常体与围岩的电阻率差异、延深、埋深这三个参数共设计了505个模型,利用正演程序计算了不同装置二维高密度视电阻率异常剖面。针对温纳α装置、温纳β装置、三极装置、对称四极装置等4种高密度电阻率装置定义了异常强度参数,针对联合剖面法采用ρsa与ρsb视电阻率曲线之间的相对差异定义异常强度参数。分析了二维局部异常体的高密度视电阻率异常空间分布规律,绘制了异常强度随二维局部异常体的电阻率差异、延深、顶部埋深这三个参数的变化曲线,详细分析了二维局部异常体物性参数和几何参数的变化对异常强度的影响,进而总结归纳出这5种最常用的高密度电阻率装置对局部异常体的最大勘探深度的定量结果。
　　文章对不同装置的勘探深度进行了对比,温纳α装置、温纳β装置、对称四极装置和三极装置这四种测量装置中,勘探深度最大的是三极装置,最小的是温纳α装置;在对局部高阻体勘探时,三极装置与对称四极装置的勘探深度基本相同;在对局部低阻体勘探时,三极装置与温纳β装置的勘探深度基本相同。通过分析联合剖面法和三极装置的勘探深度知道,在对局部低阻异常体的探测时,联合剖面法的勘探深度比三极装置的略大;在探测局部高阻异常体时,联合剖面装置并无优势。

目录

封面

声明

中文摘要

英文摘要

目录

第1章 前 言

1.1 高密度电阻率法概述

1.2 本文研究的意义

1.3 研究现状

1.4 研究内容和方法

1.5 主要的研究成果

第2章 电阻率测深二维正演模拟

2.1正演计算

2.2 有限单元法分析

2.3 稀疏矩阵的存储

2.4 视电阻率的计算

2.5 计算精度

2.6 本章小结

第3章 高密度电法不同装置对局部异常体勘探深度研究

3.1 影响局部异常体异常强度的因素

3.2 正演的模型设计和测量装置

3.3 不同因素对异常强度的影响

3.4 不同装置的勘探深度

3.5 本章小结

第4章 联剖曲线分异性讨论

4.1 联合剖面法

4.2 不同因素对联合剖面曲线分离程度的影响

4.3 联合剖面法对异常体的勘探深度

4.4 联合剖面法与三极装置的勘探深度对比

4.5 本章小结

第5章 结论和建议

5.1主要研究成果

5.2今后需要继续研究的问题

致谢

参考文献

个人简历