BESⅢ主漂移室性能研究以及数据质量监测

摘要

北京谱仪BESⅢ是运行在北京正负电子对撞机(BEPCⅡ)上的探测器，它的物理目标是在τ-粲能区的精确测量和寻找新物理。BESⅢ共包括四个子探测器，从内向外依次为主漂移室(MDC)，飞行时间计数器(TOF)，CsI电磁量能器(EMC)，μ探测器(MUC)。漂移室是BESⅢ的核心子探测器，测量有时间测量和电荷测量两部分。其中，时间测量的目的是将带电粒子的径迹和动量重建出来。BESⅢ漂移室是使用铝场丝、氦基混合气体，小单元结构的圆柱形漂移室，它工作于1T磁场中，具有很高的效率，很好的空间分辨(130μm)和动量分辨(0.5％@1GeV/c)，以及较好的dE/dx分辨(6～7％)，并且能在BEPCⅡ高亮度的条件下稳定运行。漂移室的性能主要从空间分辨，动量分辨，击中效率，Bhabha事例重建效率来衡量。本文对漂移室时间测量道的主要性能进行了研究。在取数过程中，对数据质量进行监测，以2010年12月12日至2011年5月3日这段时间为例，利用在线筛选的Bhabha事例样本，给出了漂移室的性能以及噪声的变化情况。在数据质量监测过程中，部分run的击中效率突然降低，经过分析发现是由于取数过程中漂移室工作高压trip造成的，为了便于从分析中去掉这些事例，开发了判断和丢弃工作高压trip时间内的事例的软件。