EMC暗室性能测试技术的研究

摘要

随着电子及计算机技术的发展，在一个系统中使用的电子电气设备越来越多，这些设备的电气连接也越来越复杂，由此产生的电磁兼容问题日渐突出，因此引起了人们对于产品的电磁兼容性问题的重视。电磁兼容性测试就是为了检验电子设备的干扰度及敏感度是否达到相关标准要求。用电波暗室进行电磁兼容性测试是国际标准认可并长期使用的一种测试技术，他可以用于电磁干扰度及电磁敏感度的测试。一般来说电波暗室的类型有半电波暗室和全电波暗室，暗室的尺寸有3m、5m和10m。半电波暗室主要是对开阔场进行模拟，全电波暗室是对自由空间进行模拟。
　　 本文讨论并深入研究了电波暗室性能测试的几项主要技术指标，场校准的主要测试方法。电波暗室的测试性能主要有屏蔽效能(SE)，归一化场地衰减(NSA)，传输损耗和场均匀性(FU)四项，传输损耗已被场地驻波比(SVSWR)代替。程序的实现过程主要是采用Delphi编程语言，在程序设计过程中需要各模块相互配合实现整个测试过程的合理性及准确性。对于测试人员可能在不同测试过程中使用不同仪器的情况，测试系统可以适用于不同厂家、不同型号的仪器。
　　 利用设计好的自动测试系统对每个项目进行测试，并可以根据需要保存数据，实现绘图及打印功能。文中以FU实际测试为例介绍测试的过程，并且导出了测试结果数据，从而验证了测试软件的有效性。在FU测试中，对于高频率段我们使用了替代照射法即小窗法进行测试，对于这些文中也有详细介绍。