Silicon Automation Systems Ltd., Bangalore, India-560008;
机译:基于惩罚技术的斯托克斯特征值问题的Chebyshev谱配置方法逼近
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机译:非协调方法的变位特征值问题的谱近似
机译:在互连分析期间选择“相关”特征值的光谱近似方法
机译:混合,奇异亥姆霍兹边值问题和拉普拉斯特征值问题的快速数值方法 - 用应用于天线设计,晃动,电磁散射和光谱几何形状
机译:特征值近似的Rayleigh-Ritz和A.Weinstein方法
机译:非协调方法的变位特征值问题的谱近似
机译:一般特征值问题的灵敏度分析与逼近方法