Physics Department, Rensselaer Polytechnic Institute, Troy, NY 12180-3590;
ultrafast technology; materials and process characterization;
机译:太赫兹差分时域光谱法测量纳米薄膜的介电和光学性质
机译:太赫兹时域光谱法研究导电聚苯胺薄膜的介电性能
机译:使用太赫兹时域光谱仪测量太赫兹量子级联激光器的增益
机译:用于μm厚膜的介电测量的差分时域THz光谱
机译:温度依赖于太赫兹时域光谱测量的氮化镓薄膜和氧化锌纳米线中太赫兹载流子动力学的特性
机译:将快速扫描技术集成到THz时域光谱仪中以进行非线性THz光谱测量
机译:使用太赫兹时域光谱仪测量太赫兹量子级联激光器的增益