Power Mosfets Hardened for Single Event Effects (SEE) in Space

机译：增强的电源Mosfets可在太空中实现单事件效果（SEE）

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Measurements are presented for the single event effects and total dose responses of the newly introduced Harris "FS" series of space hardened power MOSFETs. The hardness appears to offer a breakthrough for commercial space requirements.

机译：提出了针对新推出的哈里斯“ FS”系列空间硬化型功率MOSFET的单事件效应和总剂量响应的测量方法。硬度似乎为商业空间要求提供了突破。

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来源
《Third European conference on radiation and its effects on components and systems》|1995年|253-257|共5页
会议地点 Arcachon(FR);Arcachon(FR)
作者
Donald R. Carley; C. Frank Wheatley; Jeff L. Titus; Donald I. Burton;
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作者单位

Harris Semiconductor, Box 591, Somerville, NJ 08876;

Consultant, RR2 Box 1120, Drums, PA 18222;

Naval Surface Weapons Center, 300 Highway 361, Crane IN 47522;

Harris Semiconductor, Crestwood Road, Mountaintop, PA 18707;

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会议组织
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类辐射防护;
关键词
入库时间 2022-08-26 13:48:31

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