Institute of High Energy Physics, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100039, P.R. China;
机译:BEPCⅡ在BEPCⅡ的束长测量的条纹摄像头校准
机译:在TPS的低alpha格子操作中的束长测量与条纹相机
机译:在BEPCⅡ碰撞模式下从指定的单光点测量荧光寿命
机译:带条纹相机的BEPC束长测量
机译:CEBAF升级束长测量。
机译:使用长波电场对极端紫外线脉冲进行亚秒条纹测量
机译:使用条纹相机在TESLA测试设备上测量束长