Department of Electrical and Computer Engineering, Air Force Institute of Technology, Wright Patterson AFB, Ohio 45433;
Department of Electrical and Computer Engineering, Air Force Institute of Technology, Wright Patterson AFB, Ohio 45433;
Micro-contact; Au-Au Micro-contacts; Lifetime testing; micro-contact reliability;
机译:切向加载微触点的粘合剂磨损和相互作用
机译:使用高掺杂夹层在钛与轻掺杂多晶金刚石之间形成低电阻接触
机译:轻载粗糙平面触点的法向刚度和阻尼
机译:包埋银胶的Au-Au微接触的接触电阻演变
机译:基于SPM的测试仪,用于研究微接触
机译:从高负荷实验室规模旋转生物接触器的自养脱氮生物膜的表征。
机译:改进的微接触电阻模型考虑材料变形,电子传输和薄膜特性