LAGIS, UMR CNRS 8146, USTL, Batiment P2, Cite Scientifique, 59655 Villeneuve d'Ascq, FRANCE;
EIPC, Campus de la Malassise - BP 39 - 62967 Longuenesse Cedex, FRANCE;
ARC International, 41 avenue du General de Gaulle, 62510 Arques, FRANCE;
aspect flaw detection; color space; color image segmentation; histogram multi-thresholding;
机译:红外透射眼镜内缺陷的图像处理技术
机译:基于图像处理的钢球表面缺陷自动检测
机译:通过铸造进行图像处理自动探伤
机译:通过彩色图像处理装饰眼镜的缺陷检测
机译:使用颜色信息和图像处理的IC缺陷检测
机译:基于d-Eye传感器和图像处理算法的远程医学系统视网膜彩色图像自动硬渗出检测方法
机译:一种提高X射线图像缺陷检测概率的新型图像处理算法