Department of Electronics and Nanoelectronics, Ogarev Mordovia State University, Saransk, Russia;
Department of Electronics and Nanoelectronics, Ogarev Mordovia State University, Saransk, Russia;
Department of Electronics and Nanoelectronics, Ogarev Mordovia State University, Saransk, Russia;
Department of Electronics and Nanoelectronics, Ogarev Mordovia State University, Saransk, Russia;
Department of Electronics and Electrical Engineering, Novosibirsk State Technical University, Novosibirsk, Russia;
Current measurement; Voltage measurement; Thyristors; Conductivity; Semiconductor device measurement; Testing; Monitoring;
机译:半导体器件在高电导状态下测试期间加热方法的选择
机译:宽带隙半导体中的光敏化和光电流转换效应:铁和镍络合物官能化的CuI和TiO2:从半导体到逻辑器件
机译:使用光动力非晶氧化物半导体的大脑启发性光子神经形态器件及其持久的光电导性
机译:用于测试低电导率状态的半导体器件的硬件软件复合物
机译:半导体子带间设备的分析,设计和测试。
机译:使用Ag / Sn / Ag夹层结构的可靠的低温管芯附着工艺可用于高温半导体器件
机译:纳米结构对陶瓷半导体中持久的室温光电导和导热性的影响:介孔,卵黄壳和空心ZnO球
机译:组合硬件软件可靠性模型研究。第1卷。概述和摘要。第2卷。通过内置测试和硬件 - 软件交互来近似复杂系统的可用性。第3卷。可用性