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【24h】

位相変調型デュアルファイバープローブによるフリンジプロジェクション法

机译:使用相位调制双光纤探头的条纹投影方法

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摘要

近年、工業製品の物体形状や状態を高速、非接触かつ安価に計測できる技術が必要となっている。非接触で精密な工業製品の表面形状検査装置として光干渉技術が多く用いられている。しかし、生産ラインでの「その場」測定を想定した場合、光干渉計や干渉顕微鏡などによる計測では外乱による影響が大きく高速でロバストな計測が困難である。一方で、縞画像投影(または、フリンジプロジェクション)法や格子画像投影法は、より簡便な構成で物体の表面形状を全視野計測できる。しかし、これらの投影法の測定範囲は数10 mm から数m までの物体に限られ、マイクロメートル領域の微小物体の計測には向いていない。そこで、我々はデュアルファイバープローブを用いたレーザ光の干渉フリンジパターン投影により、微小な物体の表面形状を計測できる手法を提案する。
机译:近年来,需要一种能够以高速,非接触方式和低成本测量工业产品的对象的形状和状态的技术。光学干涉技术通常用作非接触式和精密工业产品的表面形状检查设备。但是,假设在生产线上进行“原位”测量,由于光学干涉仪或干涉显微镜在高速下对干扰的影响很大,因此很难进行测量。另一方面,条纹图像投影(或条纹投影)方法和格子\ r \ n图像投影方法可以用更简单的配置来测量物体的整个表面场。然而,这些投影方法的测量范围限于从几十毫米到几米的物体,并且不适合于在微米区域中测量微小物体。因此,我们提出一种可以通过使用双光纤探针通过激光的干涉条纹图案投影来测量小物体的表面形状的方法。

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