Oxford Instruments, High Wycombe, United Kingdom;
Omniprobe, Dallas, Texas 75238, USA;
Omniprobe, Dallas, Texas 75238, USA;
rnOxford Instruments, High Wycombe, United Kingdom;
Oxford Instruments, High Wycombe, United Kingdom;
Oxford Instruments, High Wycombe, United Kingdom;
机译:利用原位瞬态反射率测量,准分子激光诱导非晶硅薄膜结晶过程中观察到的硅膜厚度和衬底温度对熔化时间的影响
机译:薄膜厚度和热处理对溶胶-凝胶法沉积Ga掺杂ZnO薄膜结构和光电性能的影响
机译:通过热阴极直流等离子体化学气相沉积法沉积的CH4 / Ar / H-2混合气体组成不同的纳米晶金刚石薄膜
机译:原位表面组成测量Cugase_2薄膜
机译:直喷式火花点火发动机的活塞顶上的燃料膜温度和厚度测量值。
机译:膜厚对原子层沉积超薄TiO2薄膜气敏特性的影响
机译:膜厚度对原子层沉积沉积的超薄TiO2薄膜气体传感性能的影响
机译:真空沉积镍铬膜的厚度和组成