Fraunhofer Institute for Applied Optics and Precision Engineering IOF Albert-Einstein-Strasse 7 07745 Jena Germany;
Fraunhofer Institute for Applied Optics and Precision Engineering IOF Albert-Einstein-Strasse 7 07745 Jena Germany Institute for Applied Physics IAP Friedrich-Schiller-University Jena Max-Wien-Platz 1 07743 Jena Germany;
机译:组合式触觉光学计量设备对两侧自由光学元件的测量和校正
机译:组合式触觉光学计量设备对两侧自由光学元件的测量和校正
机译:一个简单的组合的样品标准方括号和元素间校正程序,可进行准确的质量偏差校正以及精确的Zn和Cu同位素比测量
机译:用组合触觉光学计量设备测量和校正双面自由形光学元件
机译:梯度折射率材料的光学相干断层扫描计量和自由形态光学表面
机译:DNA作为使用光镊进行长度和力测量的计量标准
机译:用组合触觉光学计量设备测量和校正双面自由形光学元件