InP厚膜における有限開口Z-scan法による非線形屈折率の精密測定の検討

摘要

我々はこれまで、偏光状態を変えたZ-scan法にてInPの3次非線形感受率テンソルχ(3)の虚部及び実部を測定してきた。Re[χ(3)]に起因する非線形屈折率n 2は有限開口Z-scan法を用いて測定できる。しかし、InPのn2の評価値の確度、精度共に二桁程度と不十分であるという問題があった。そのためRe[χ(3)]の測定精度は一桁半であった[3–5]。そこで本研究では、n2の評価値の確度、精度共に向上を行うことを目的とした。