pulsed laser testing; single event effect; single event upset; single event latchup; picosecond laser irradiation; photoelectric response; laser beam spot size; radiation hardening;
机译:用重离子和脉冲激光辐照进行单事件效应测试的新方法:CMOS / SOI SRAM基板去除
机译:单事件效应地面测试和在轨速率预测方法:过去,现在和将来
机译:评估中聚焦激光辐照作为模拟单事件效应的方法
机译:基于超短脉冲激光“局部照射”的空间电子器件纯激光单事件效应测试方法
机译:用于在混合辐射环境中测试微电子学的核内辐射器的特性。
机译:利用基于Wi-Fi的定位方法的基于Wi-Fi的定位方法融合用于移动机器人的学习数据收集本地化和在室内空间中跟踪
机译:基于超短脉冲激光局部辐照的航天器电子器件仅激光单事件效应试验方法
机译:单事件效应地面测试和在轨率预测方法:过去,现在和未来。