built-in self test; low-power electronics; microprocessor chips; power consumption; built-in self test ability; clock cycle; current sensing; energy measurement; hardware-software related power parameter; in-chip configuration; low power system; microprocessing sys;
机译:功耗监控的基准测试:描述旨在揭示并行硬件系统的功耗特征的基准测试和初步结果
机译:六级无功补偿器微处理控制系统的开发
机译:用拓扑重新配置进行配电系统监测的规划计量
机译:片内配置,用于监控微处理系统中的功耗
机译:用于涂层金属系统上的原位腐蚀监测的新型电极配置的研究。
机译:带有高速叶轮的搅拌式容器中管状挡板结构对功耗的影响
机译:比较混合动力系统的燃料消耗和排放水平和各种驱动循环中的传统动力系和杂交程度