VAM／VAM32試験器の開発

摘要

情報メモリは、踏切保安装置の動作確認や故障時の故障部位の早期特定に必要不可欠な機器です。今回作成したＶＡＭ試験器を検査で活用することにより、外観のランプ表示だけでは見つけることの出来なかった情報メモリの故障が簡単に分かるようになりました。今後も日常業務における「ムリ」「ムラ」「ムダ」に視点を置き、検査効率及び検査品質の向上に努めていきます。